在RFID大增益超高频天线的性能参数中,增益是核心指标之一,尤其在RFID读写器配套的大增益天线设计中至关重要。其定义主要有两种:第一种是在相同输入功率下,同一距离处任意RFID大增益超高频天线在某一方向辐射的功率密度,与无损耗理想点源(即理想无向超高频天线)在该方向的辐射功率密度之比值;第二种定义为,在同一接收点、相同电场强度条件下,无方向性超高频天线的输入功率与有方向性的RFID大增益超高频天线的输入功率之比。
通常所说的无方向性超高频天线,是一种理想无耗点辐射源,其辐射方向图呈球形——能将输入的全部能量辐射到空间,且各角度辐射强度一致,这一理想模型为RFID大增益天线增益提供了基准,对应的增益单位为dBi,理想全向超高频天线的增益即为0dBi(对应单位球面辐射)。
实际应用中,无论是通用RFID超高频天线还是适配RFID读写器的场景化定制天线,大多具备方向性且以大增益为核心设计目标。若这类RFID大增益天线无损耗且能辐射全部输入能量,由于其辐射能量在空间分布不均(部分角度能量强、部分角度能量弱),会形成特定的空间分布曲线,即RFID大增益天线的方向性系数。当输入能量与理想全向超高频天线相同时,空间不同位置的能量值存在差异,此时通常取RFID大增益天线辐射能量最大的角度,将该角度的能量值与理想全向超高频天线的能量值相比,所得比值即为该RFID大增益天线的增益(单位dBi)。无耗方向性RFID大增益天线的增益必然大于0dBi,且增益值越大,说明其方向性越强,这一特性在RFID读写器的远距离识别场景中尤为关键,场景化定制天线会通过优化增益来提升识别距离与精度。
需要明确的是,我们讨论的RFID大增益天线(尤其是RFID读写器常用的配套大增益天线)多为无源超高频天线,其本身不具备能量放大功能,增益的本质是“能量的空间分布调整”,而非“能量新增”。
具体来说,当输入相同能量时,理想全向超高频天线会将能量均匀辐射到各个角度;而方向性的RFID大增益天线(包括多数RFID读写器适配的场景化定制天线)则会改变能量分布——部分角度辐射能量增强,部分角度辐射能量减弱。我们所说的增益,正是辐射最强角度的能量值与理想全向超高频天线能量值的比值。由于总输入能量固定,某一角度能量的“增强”必然伴随其他角度能量的“减弱”,且增益越大,能量集中的角度范围越窄(方向性越强)。因此,RFID大增益天线的增益并非体现能量放大能力,而是反映其将能量集中到特定角度的能力,这一特性在场景化定制天线设计中尤为重要,例如针对仓库密集货架的RFID读写器,需定制高增益窄波束RFID大增益天线,以避免相邻货架标签干扰。
表征RFID大增益天线性能的参数中,方向性系数、效率与增益紧密关联,三者共同决定RFID大增益天线在实际场景(如RFID读写器系统)中的表现。
对于无耗且阻抗完全匹配的RFID大增益天线,输入的能量会全部辐射到空间,此时效率为1。但实际应用的RFID大增益天线(包括RFID读写器的场景化定制天线)往往存在损耗(如材质损耗、结构损耗),且阻抗难以完全匹配,导致部分输入能量被消耗或反射回馈电端,仅有部分能量被辐射,效率随之小于1。尤其是电小尺寸RFID超高频天线,效率通常极低(仅5%~15%)。此时,RFID大增益天线的增益不再仅由方向性决定,而是等于RFID大增益天线效率与方向性系数的乘积——这意味着增益既体现RFID大增益天线的能量集中能力(方向性),也反映其能量利用效率(辐射效率)。
不过,对于设计优良的RFID大增益天线(如专业RFID读写器配套的场景化定制天线),其效率通常较高(接近1),此时增益与方向性的相关性极强——增益越高,方向性越突出,能更好地满足RFID读写器在特定场景下的精准识别需求(如远距离盘点、定向读取等)。
当前实用的RFID大增益天线(尤其是RFID读写器常用的大增益天线类型)中,多数带有接地板或需贴近地面安装,这类天线仅向单一方向辐射,反向辐射极低可忽略,被称为半辐射RFID大增益天线。
在理想无损耗的情况下,由于接地板限制,输入RFID大增益天线的能量仅能在半个球体空间内辐射,各角度的能量值为理想全向超高频天线的2倍,对应增益约3dBi——这意味着理想半空间辐射RFID大增益天线的增益下限通常为3dBi。但实际应用中,接地板会改变辐射方向图(靠近接地板的方向辐射较弱),因此实际产品的增益会有所差异。例如,RFID读写器常用的Patch型RFID大增益天线,其增益一般在4~6dBi;若需进一步提升方向性(如满足大型物流园区RFID读写器的远距离识别需求),可通过优化接地板结构、增加反射组件等方式定制场景化定制天线,此时半辐射RFID大增益天线的增益可达到10dBi以上。
前文提到的理想无耗点辐射源是理论模型,现实中不存在,而半波振子超高频天线是常见且结构简单的基准天线,其理论增益为2.15dBi,常被用于实验室测试。
在RFID大增益天线(包括RFID读写器场景化定制天线)的增益测试中,若以半波振子超高频天线为基准,比较待测RFID大增益天线与半波振子天线在空间的辐射能量比值,所得增益单位为dBd;若需将dBd换算为通用的dBi(以理想全向天线为基准),只需在dBd数值基础上加上2.15(工程应用中通常简化为加2)。
这一换算关系在RFID读写器系统选型中尤为重要:场景化定制天线的增益标注可能采用dBi或dBd,需通过换算统一基准,确保大增益天线与RFID读写器的功率、识别距离需求匹配,避免因单位混淆导致性能不达标。
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